Главная Отделы Цкп «нанотехнологии» Аналитические услуги

ЦКП «Нанотехнологии»

Аналитические услуги

Прибор синхронного термического анализа STA 449 F5 Jupiter, совмещенный с масс-спектрометром QMC Aeolos Quadro

Проведение термогравиметрического, дифференциально-термического анализов, а также дифференциально-сканирующей калориметрии; Масс-спектрометрия выделяющихся газов в процессе термогравиметрического анализа

Анализатор импульсной хемосорбции ChemiSorb 2750

Определение адсорбционных свойств материалов (хемосорбция различных газов на поверхности материалов – ТПД Н2, СО);Определение площади поверхности методом БЭТ;Проведение температурно-программируемых реакций (ТПВ, ТПО)

Жидкостной хроматограф Agilent мод. 1260 Infinity LC

Запись хроматограммы на высокоэффективном жидкостном хроматографе с диодно-матричным детектором (для каждого образца, в зависимости от сложности, без разработки методики)

Газовый хромато-масс-спектрометр Agilent 7890A с масс-селективным квадрупольным детектором MSD 5975С

Запись хроматограммы с масс-спектрометрией анализируемых веществ на газовом хроматографе (для каждого образца, в зависимости от сложности, без разработки методики)

Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр ARLQUANT’X

Качественный элементный анализ (от Na до U) методом EDXRF-спектрометрии; Количественный элементный анализ (от Аl до U) методом EDXRF-спектрометрии (без разработки методики анализа)

Спектрофотометр Shimadzu UV-1800

Запись УФ-спектра раствора заказчика (без пробоподготовки)

Спектрометр ядерного магнитного резонанса (ЯМР) Bruker Avance Neo (300 МГц)

Регистрация спектров ЯМР на ядрах 1H, 11B, 13С, 15N, 19F и др., включая двумерные методики COSY, NOESY, ROESY, TOCSY, HSQC, HMQC, HMBC, и др.

ИК-Фурье спектрометр Varian 640

Запись ИК-спектра (без пробоподготовки, без обработки); Запись ИК-спектра (с обработкой полученных данных)

Порошковый рентгеновский дифрактометр ARL X’TRA

Определение фазового состава поликристаллических материалов методом рентгеновской дифрактометрии

Сканирующий зондовый микроскоп Solver HV

Исследование морфологии поверхности

Сканирующий электронный микроскоп Quanta 200 с приставкой для рентгеновского микроанализа EdaxGenesis

Исследование морфологии поверхности; Количественный локальный элементный микроанализ поверхности